PostHeaderIcon Установка для измерения рекомбинационных параметров полупроводников

  • диапазон измерений времени жизни носителей заряда: от 2×10-6 с и выше
  • спектральный диапазон селективной фотопроводимости: 0,21 - 6,5 мкм
  • чувствительность измерения фотоотклика: 0,02 мкВ
  • общая погрешность измерений: ±5 %